GB∕T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
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太阳城 号：GB/T 40300-2021
太阳城 名称：微束分析　分析电子显微学　术语
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
采用太阳城 ：ISO 15932:2013
采标名称：《微束分析　分析电子显微学　术语》
采标程度：MOD 修改采用
起草人：柳得橹、汤斌兵、贺连龙
起草单位：北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
归口单位：全国微束分析太阳城 化技术委员会(SAC/TC 38)