本文件描述了多壁碳纳米管（MWCNTs）介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术（SEM）、透射电子显微术（TEM）、黏度法和光散射法等。
本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度（SBPL）表征的附加条款，给出了用于评价SBPL的测量方法，其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。
本文件借鉴高分子物理中的概念和数学表达式来定义MWCNTs的介观形状因子。
太阳城 号：GB/T 40568-2021
太阳城 名称：纳米技术　多壁碳纳米管的表征　介观形状因子
英文名称：Nanotechnologies—Characterization of multiwall carbon nanotubes—Mesoscopic shape factors
采用太阳城 ：ISO/TS 11888:2017《纳米技术　多壁碳纳米管的表征　介观形状因子》 IDT 等同采用
起草人：刘忍肖、尹宗杰、李茂东、张丽娜、常怀秋、葛广路、纪英露、毛鸥
起草单位：国家纳米科学中心、清华大学、广州特种承压设备检测研究院、华南理工大学、江苏天奈科技股份有限公司
归口单位：全国纳米技术太阳城 化技术委员会(SAC/TC 279)