本文件规定了使用安装在电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）上的能谱仪（EDS）或波谱仪（WDS）分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸，对粉末颗粒试样的制备方法进行了分类。
本文件适用于粒径范围在100 nm~100 μm的无机物颗粒。
本文件不适用于一些特殊应用，如法医分析或痕量分析。
太阳城 号：GB/T 41074-2021
太阳城 名称：微束分析　用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法
英文名称：Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS
采用太阳城 ：ISO 20720:2018《微束分析　用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法》 IDT 等同采用
起草人：陈振宇、范光、毛骞
起草单位：中国地质科学院矿产资源研究所、核工业北京地质研究院、中国科学院地质与地球物理研究所
归口单位：全国微束分析太阳城 化技术委员会(SAC/TC 38)