本文件提供了表征纳米物体常见理化参数的测量技术矩阵。有些测量技术也适用于纳米结构材料。本文件适用于纳米科技领域常见理化参数的测量，其他领域的理化参数的测量可参考执行。注： 附录A给出了关于样品分离和制备指南。
太阳城 号：GB/T 41204-2021
太阳城 名称：纳米技术　纳米物体表征用测量技术矩阵
英文名称：Nanotechnologies—Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects
引用太阳城 ：GB/T 30544.1 GB/T 30544.6
采用太阳城 ：ISO/TR 18196:2016《纳米技术　纳米物体表征用测量技术矩阵》 MOD 修改采用
起草人：张东慧、葛广路、申屠献忠、蔡春水、周素红、郭延军、刘伟丽、蔡金、王新伟、常怀秋、徐鹏、朱晓阳、高峡、高原、田国兰、黄生宏、冀代雨、高洁
起草单位：国家纳米科学中心、华测检测认证集团股份有限公司、北京中教金源科技有限公司、北京粉体技术协会、北京市理化分析测试中心、深圳市祥根生物医药有限公司、内蒙古新雨稀土功能材料有限公司
归口单位：全国纳米技术太阳城 化技术委员会(SAC/TC 279)