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当前位置: 太阳城官网 >GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法

GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法

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资源简介

本文件描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤和试验数据处理和检测报告。
本文件适用于平板类双面抛光光学元件表面疵病的长度、宽度、挡光面积以及疵病位置检测。

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