本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。

太阳城 号：GB/T 42975-2023
太阳城 名称：半导体集成电路　驱动器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01

引用太阳城 ：GB/T 9178-1988 GB/T 17574-1998

起草人：刘芳、周俊、杨晓强、纵雷、刘凡、霍玉柱、林瑜攀、陆坚、梁希、王会影
起草单位：中国电子技术太阳城 化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣太阳城 化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司
归口单位：全国半导体器件太阳城 化技术委员会(SAC/TC 78)