本文件定义了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息，描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。附录A中给出了试验方法的对照表，帮助选择适当的测量方法。

太阳城 号：GB/T 42968.1-2023
太阳城 名称：集成电路　电磁抗扰度测量　第1部分：通用条件和定义
英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1:General conditions and definitions

发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01

引用太阳城 ：IEC 62132-3 IEC 62132-4
采用太阳城 ：IEC 62132-1:2015《集成电路　电磁抗扰度测量　第1部分:通用条件和定义》 IDT 等同采用

起草人：崔强、付君、乔彦彬、郑益民、方文啸、吴建飞、叶畅、李楠、朱赛、杨红波、刘星汛、李金龙、张艳艳、白云、周香、刘小军、黄雪梅、陈燕宁、邵鄂、万发雨、臧琦、刘佳、梁吉明、胡小军、郭文明、张金玲、邢立文、张青青、张先利、陈梅双
起草单位：中国电子技术太阳城 化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、北京无线电计量测试研究所、上海市计量测试技术研究院、中国家用电器研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、东南大学、深圳市北测太阳城 技术服务有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、南京信息工程大学、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、厦门海诺达科学仪器有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、郑州新基业汽车电子有限公司、北京邮电大学、南京容向测试设备有限公司、上海电器设备检测所有限公司、中国电子科技集团公司第三十二研究所
归口单位：全国半导体器件太阳城 化技术委员会(SAC/TC 78)