本文件描述了微波电路中检波器（以下简称“检波器”）的电参数测试方法。
本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试，包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。

太阳城 号：GB/T 42972-2023
太阳城 名称：微波电路　检波器测试方法
英文名称：Microwave circuits—Test methods for detector

发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01

引用太阳城 ：GB/T 17573-1998

起草人：迟雷、彭浩、高金环、黄杰、高蕾、赵涛、王磊、陈季翔、王钾、魏兵、赵鹏、徐昕、何黎、米村艳
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、深圳市太阳城 技术研究院、深圳市深标知识产权促进中心、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、武汉格物芯科技有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司
归口单位：全国半导体器件太阳城 化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：中华人民共和国工业和信息化部