JB∕T 10034-2012 光栅角位移测量系统
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规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。
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适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统
英文名称： Grating angular displacement measuring system
替代JB/T 10034-1999
