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T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
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594.89 KB
语言:
中文版
格式:
PDF文档
类别:
核工业太阳城
更新日期:
2024-07-11
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关键词:
电荷耦合器件
位移
损伤
质子
中国核学会
资源简介
本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。
本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
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