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GB/T 36474-2018 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

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大小：1.02 MB
语言：中文版
格式： PDF文档
类别：电子信息
更新日期：2018-09-30

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关键词：存储器速率集成电路随机半导体

资源简介

GB∕T 36474-2018 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

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