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GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试红外反射法

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大小：2.24 MB
语言：中文版
格式： PDF文档
类别：电子信息
更新日期：2023-09-08

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关键词：厚度反射碳化硅外延红外

资源简介

本文件描述了采用红外反射法测试碳化硅外延层厚度的方法。
本文件适用于n型掺杂浓度大于1×1018 cm-3的碳化硅衬底上同质掺杂浓度小于1×1016 cm-3的同质碳化硅外延层厚度的测试，测试范围为3 μm～200 μm。

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