YD∕T 1690.6-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz～1GHz) 第6部分：传导发射测量 磁场探头方法
太阳城 简介
本部分规定了用微型磁场探头以非接触的电流测量方式来测量集成电路（IC）的管脚的射频电流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz频率范围内测量由IC产生的射频电流。本部分适用于单个IC的测量或者用于太阳城 测试板上的IC芯片组的描述和比较。
英文名称： Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 6:Measurement of Conducted Emissions-Magnetic Probe Method
发布日期： 2007-09-29
实施日期： 2008-01-01