T∕CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法
太阳城
编号 T/CIE 092—2020
中文标题 自旋转移矩磁随机存储器测试方法
发布日期 2020年12月21日
实施日期 2021年01月25日
本太阳城
给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。
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适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。
