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JR/T 0045.4-2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第4部分:非接触卡片检测规范

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  • 语言:中文版
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  • 类别:金融太阳城
  • 更新日期:2023-10-17
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关键词:卡片   集成电路   检测   接触   中国金融
资源简介
本部分从卡片检测角度描述了非接触快速借记/贷记交易流程的要求,包括电气特性通讯协议测试和应用内核测试等。
本部分适用于JR/T 0025.12—2013 所规定的快速借记/贷记应用的卡片以及以其他形式存在的加载了金融应用的设备。使用对象主要是与金融IC 卡应用相关的卡片设计、制造、检测,以及应用系统研制、开发、集成和维护的部门(单位)。
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JR/T 0045.4-2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第4部分:非接触卡片检测规范资源截图
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